اندازه‌گیری زاویه و خمش دو وجه محیط فعال لیزر دیسک با استفاده از تک عکس تداخلی

نوع مقاله : مقاله پژوهشی

نویسندگان

1 استادیار،گروه آموزشی اتمی مولکولی، دانشکده فیزیک، دانشگاه علم و صنعت، تهران، ایران

2 استادیار، مرکز ملی علوم و فنون لیزر، تهران، ایران

چکیده

در این مقاله یک روش تداخلی برای  اندازه‎گیری زاویه بین دوصفحه لیزر دیسک و خمش هر دو وجه محیط فعال لیزر دیسک معرفی می‌شود. برای افزایش بازدهی محیط فعال وجه جلویی آن با یک لایه ضد بازتابی برای طول‌موج باریکه پمپ کاواک لیزر پوشانده شده است. همچنین برای جلوگیری از اثر اتالونی یک زاویه بسیار کوچکی بین دو آن وجود دارد. دمش در محیط فعال باعث اثرات ترمودینامیکی در آن شده و باعث تغییر انحنا وجوه آن می‌شود. اندازه‎گیری این تغییرات شکل برای ساخت سامانه اپتیک تطبیقی و جبران آن در تشدیدگر لیزر ضروری به نظر می‌رسد. بدین منظور از یک لیزر مرئی که برعکس باریکه پمپ، بازتاب چندگانه در این محیط دارد و هرکدام از بازتاب‌ها حاوی اطلاعات زاویه و خمیدگی وجوه محیط است، استفاده شده است. ما نشان داده‌ایم که با تنها یک طرح تداخلی می­توان هر سه اطلاعات وجه جلویی و پشتی و زاویه بین آن را اندازه گرفت.

کلیدواژه‌ها


[1]     A. Giesen and J. Speiser, “Fifteen years of work on       thin-disk lasers: results and scaling laws,” IEEE J. Sel. Top. Quantum Electron, vol. 13, pp. 598–609, 2007.##
[2]     J. Mende, E. Schmid, J. Speiser, G. Spindler, and A. Giesen, “Thin disk laser: power scaling to the kW regime in fundamental mode operation,” Proc. SPIE, 2009.##
[3]     S. Piehler, B. Weichelt, A. Voss, M. A. Ahmed, and T. Graf, “Power scaling of fundamental-mode thin-disk lasers using intracavity deformable mirrors,” Optics. Letters, vol. 37, pp. 5033–5035, 2012.##
[4]     J. Muzik, M. Chyla, S. S. Nagisetty, T. Miura, K. Mann, A. Endo, and T. Mocek, “Precise curvature measurement of Yb:YAG thin disk,” Proc. SPIE, 2015.##
[5]     P. Marquet, B. Rappaz, P. J. Magistretti, E. Cuche, Y. Emery, T. Colomb, and C. Depeursinge, “Digital holographic microscopy: a noninvasive contrast imaging technique allowing quantitative visualization of living cells with subwavelength axial accuracy,” Optics Letters, vol. 30,  pp. 468-70, 2005.##
[6]     L.C. Chen, S. L. Yeh, A.M. Tapilouw, and J.-c. Chang,   “3-D surface profilometry using simultaneous             phase-shifting interferometry,” Optics Communications, vol. 18, 2010.##
[7]     N. Nabipour and M. Karimi, “The effect of the propagation mode of a laser wave in an interferometer diagnostics in determining of electron density of Damavand tokamak plasma and calculation of the measurement error,” J. Appl. Electrom. 2016. 4, pp. 47-53. (In Persian)##
[8]     G. Popescu, L. P. Deflores, J. C. Vaughan, K. Badizadegan, H. Iwai, R. R. Dasari, and M. S. Feld, “Fourier phase microscopy for investigation of biological structures and dynamics,” Optics Letters, 2004 .##
[9]     Takahiro Ikeda, Gabriel Popescu, Ramachandra R. Dasari, and Michael S. Feld, “Hilbert phase microscopy for investigating fast dynamics in transparent systems,” Optics Letters, vol. 30, pp. 1165-1167.##
[10]   B. Tayebi, F. Sharif, M. R. Jafarfard, and D. Y. Kim, “Double-field-of-view, quasi-common-path interferometer using Fourier domain multiplexing,” Optics Express, vol. 20, pp. 26825-33, 2015.##